报告时间：2010年9月24号下午15:00-16:00
报告地点：浙江大学玉泉校区第三教学楼光电系会议室（326）
报告题目：
1、国际半导体照明标准和测量技术的最新进展
Development of Standardization and Measurement of SSL Products in USA and CIE
报告人：国际照明委员会CIE第二分部部长
美国国家标准与技术研究院NIST光度测量负责人 Dr.Yoshi Ohno
2、 LED产品的光生物辐射安全国际标准和测量方法
Development of Photobiological Safety-related standards and Measurements for LED Products
报告人：美国NIST客座研究员、浙江大学光电系牟同升副教授
欢迎本校教师、学生积极参加！校外人员参加请预先联系报名
联系人：田野 13758195005
报告人简介：
Yoshi Ohno博士，国际知名光辐射测量专家和物理学家，对光度与色度有非常深入的研究和造诣。现任美国国家标准与技术研究院NIST光学组负责人，国际照明委员会CIE第二分部部长(Director)，光度学与光辐射顾问委员会（CCPR）NIST代表，CCPR关键比对工作组主席，同时担任北美照明工程师协会IESNA资深研究员及IESNA 测试规程委员会固态照明分会技术总召集人。
近几年，Yoshi Ohno博士作为技术总协调人积极推动美国固态照明标准的发展，以及CIE、ISO在半导体照明标准体化方面的活动。在国际上具有很高的威望。他负责起草了美国“能源之星”固态照明产品认证测试标准IESNA LM79-08和固态照明产品色度标准ANSI C78.377。Yoshi Ohno博士曾获得美国联邦政府颁发的阿瑟·弗莱明奖(Arthur S. Flemming Award)， CIE杰出贡献金质奖章，美国商务部银质奖章。
