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仪器简介：
1986年，Binnig和Rohrer因发明扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）并首次观察到原子图像而获得诺贝尔物理学奖。AFM利用微探针与样品之间的原子力而扫描获得样品的微纳米三维结构形貌。本单位自主研发的AFM—IIa原子力显微镜技术及仪器，具有原理新颖、设计先进、方法巧妙、操作简便、性能优越等特点，已广泛应用于物理学、化学、高分子科学、材料学、生物学、微电子学、光电子学、微型机械、生物学和医学等领域，为我国纳米科技事业的发展作出了积极贡献。
主要技术指标：
AFM最高分辨率：横向优于1 nm，纵向优于0.1 nm；
AFM扫描范围：1.0μm×1.0μm，2.0μm×2.0μm，3.0μm×3.0μm，4.0μm×4.0μm；
10μm×10μm，20μm×20μm（选项）；
图像采样像素点：256×256点/幅，512×512点/幅；或180×180点/幅，400×400点/幅；
扫描速度可任意调节，最大图像扫描速率：10万点/秒 (1幅图像/3秒)。
AFM微探针微悬臂有效长度100μm和200μm，具有4种不同的弹性系数；
基于Windows 2000/NT/XP系统的扫描及控制软件，简洁优化的中文/英文操作界面，强大
AFM最高分辨率：横向优于1 nm，纵向优于0.1 nm；
AFM扫描范围：1.0μm×1.0μm，2.0μm×2.0μm，3.0μm×3.0μm，4.0μm×4.0μm；
10μm×10μm，20μm×20μm（选项）；
图像采样像素点：256×256点/幅，512×512点/幅；或180×180点/幅，400×400点/幅；
扫描速度可任意调节，最大图像扫描速率：10万点/秒 (1幅图像/3秒)。
AFM微探针微悬臂有效长度100μm和200μm，具有4种不同的弹性系数；
基于Windows 2000/NT/XP系统的扫描及控制软件，简洁优化的中文/英文操作界面，强大
的图像扫描、处理和显示功能，为用户提供软件二次开发的功能。
AFM—IIa原子力显微镜
AFM—IIa原子力显微镜扫描获得的样品的微纳米图像
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