Agilent 4155C半导体参数分析仪

型号： Agilent 4155C 规格： 0-100V 收费标准： 功能与用途： 可用于测量半导体电子元器件（p-n结，晶体管，场效应管，运算放大器等）的I-V，C-V特征曲线，薄膜方块电阻等多种器件参数，也可以在低温环境下，可以测量半导体载流子迁移率等半导体重要参数。该仪器目前和太阳光模拟器配合使用，用于测量聚合物太阳能电池的I-V特性，获得真实可靠的器件性能指标。